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  • Z3000审计最终粒度仪
    审计最终粒度仪:专为复杂体系提供高精度粒度解析方案,工作原理:动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS),检测范围:0.3nm-10.0μm。
    更新时间:2024-08-26型号:Z3000
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  • A7000 APS大粒子计数器
    大粒子计数器工作原理:单颗粒光学传感技术(Single Particle Optical Sizing,SPOS),检测范围:0.5 μm – 400 μm
    更新时间:2024-08-26型号:A7000 APS
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  • A7000光阻法颗粒计数器
    光阻法颗粒计数器型号:AccuSizer 780 A7000 APS 全自动颗粒计数/粒度分析仪,工作原理:单颗粒光学传感技术(Single Particle Optical Sizing,SPOS)。
    更新时间:2024-08-26型号:A7000
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  • ZETA电位粒度分析仪
    ZETA电位粒度分析仪:带相位分析的多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS)。
    更新时间:2024-08-26型号:
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  • 高浓度颗粒计数
    高浓度颗粒计数:只需通过鼠标的单击操作,即能帮助用户在短时间 内完成从进样到检测,完成清洗系统的所有操作,使用户获得重要的粒径分布信息。
    更新时间:2024-08-26型号:
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